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大概總結一下，如果你不做preconditioning的話，直接拿來測或者測了沒有寫入到的地方，SSD的FTL可能仍然沒有把顆粒上的這塊空間標記為寫入過，結果就是測試根本沒有落盤（即沒有讀寫到存儲介質本身），硬盤閉著眼反饋00或者FF，直接在主控里解決了。甚至如果preconditioning做的不好的話，SSD仍然可能找出規(guī)律使得測試結果出錯。目前已知有2個人因為這個問題測出了遠高于SSD性能標稱的數(shù)值，對于不能訪問github的人，引用一下上述討論的重點。

同時作為驗證，使用指令建立一個空的20GB文件而不進行數(shù)據(jù)寫入（即不進行preconditioning）：

fsutil file createnew E:\iobw2.tst 21474836480

這時使用diskspd和iometer直接測試這個文件，就會得出一個100多萬IOPS（約4GB/s）的結果。這個結果遠遠超過了pcie 3.0×4 SSD的隨機帶寬，甚至大幅高于理論順序帶寬。顯然這個結果是錯誤的。當使用下面指令將數(shù)據(jù)寫入這個文件也就是正常進行precondition以后，測試結果就會回歸正常。
 

當然你也可以不格式化直接不斷寫入來做preconditioning，SNIA的SSSPTS建議是全盤寫入2遍。但是這樣寫2遍下來以后，SSD正在進行垃圾回收（GC），而且你并不知道它什么時候會停，有時候通電放置幾小時以后測出來的性能仍然不正常。你也可以指定測試區(qū)域然后對這個區(qū)域進行preconditioning，但是這樣的測試會非常復雜，SSD不確定會不會認為寫入的數(shù)據(jù)是有效數(shù)據(jù)，而且有意避開系統(tǒng)環(huán)境這個影響因素一般也沒什么實際意義。

所以個人建議測試SSD首先創(chuàng)建寫入了full random或者pseudo random的隨機數(shù)據(jù)文件，排除一切潛在威脅，然后進行測試。當然此次測試也會包含RAW的情況作為對比。