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一、概述

自從很多年前開始做SSD方面的測試以來，我就和某些行業(yè)工作者產(chǎn)生了同感：存儲(chǔ)性能測試基本是所有計(jì)算機(jī)硬件測試?yán)镒顝?fù)雜困難的一項(xiàng)。存儲(chǔ)系統(tǒng)的性能受到整個(gè)機(jī)器其他硬件甚至軟件方面的影響：按ssd本身來說，在不同負(fù)載（線程數(shù)，隊(duì)列深度，塊大小，隨機(jī)度等）環(huán)境下一塊盤發(fā)揮出的性能大有區(qū)別，設(shè)置成不同扇區(qū)大小性能會(huì)不同，在相同情況下測試一段時(shí)間盤的性能還會(huì)發(fā)生FOB-transition-steadystate的轉(zhuǎn)變；按軟件環(huán)境來說，不同系統(tǒng)、文件系統(tǒng)以及軟件本身的訪問模式都能造成性能差別；另外其他硬件比如CPU和控制器、陣列卡等也可能影響SSD的性能。因此在測試方法上的研究層出不窮，甚至有行業(yè)組織給出測試建議（如SNIA的Solid State Storage Performance Test Specification）。